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    32.768KHz晶振負載電容CL選錯導致晶振不起振案例分析

    客戶反饋在批量生產階段,32.768KHz晶振不起振,導致所生產的智能鎖開機系統紊亂,無法正常使用。

    通過與客戶溝通,了解到:該類型智能鎖開機后,芯片捕捉32.768KHz晶振提供的時鐘信號,完成系統診斷無誤后,方可正常開機。問題就發生在芯片捕捉時鐘信號失敗這個環節,因此判定晶振不起振。

    客戶選用的為我司生產的晶振32.768KHz,負載電容CL=12.5pF, 調整頻差:±20PPM。我司取回懷疑為不良品的晶振進行單體測試,結果顯示各項電氣參數均屬于正常范圍。

    我司工程師與客戶現場測試智能鎖上電后晶振工作狀態,發現智能鎖開機系統紊亂現象重現,但測得晶振處于工作狀態,頻率信號已輸出,但芯片卻無法成功捕捉。

    分析該型號芯片沒有對應該晶振輸出的頻率范圍,導致開機失敗。建議客戶核對芯片型號并確認所需晶振類型。最終發現客戶所需32.768KHz晶振負載電容應為7pF,這個參數已經在芯片應用方案中有明確注明。

    更換為負載電容CL為7pF的32.768KHz晶振之后,智能鎖開機正常,不良現象不再重現。

    注:

    1、32.768KHz晶振常用負載電容CL為12.5pF,但同時也存在6pF、7pF、9pF等負載。選擇哪種負載電容CL主要取決于芯片對晶振的要求。

    2、經驗證,若32.768KHz晶振的負載電容CL選錯,無法通過調整外接電容值大小來改善設備故障問題。

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