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    晶振選型,晶振封裝,晶振工作環境,晶振常見故障及檢測

    晶振選型,晶振封裝,晶振工作環境,晶振常見故障及檢測

    • 晶振選型

    晶振選型時一般都要留出一些余量,以保證產品的可靠性。選用較高檔的器件可以進一步降低失效概率,帶來潛在的效益,這一點在比較晶振價格的時候也要考慮到。要使振蕩器的“整體性能”趨于平衡、合理,這就需要權衡諸如穩定度、工作溫度范圍、晶體老化效應、相位噪聲、成本等多方面因素,這里的成本不僅僅包含晶振的價格,而且還包含產品整體壽命的使用成本。

    • 晶振封裝

    晶振選型,晶振封裝,晶振工作環境,晶振常見故障及檢測

    與其它電子元件相似,時鐘振蕩器亦采用愈來愈小型的封裝。通常,較小型的晶振比較大型的表面貼裝或插件式封裝晶振價格更高。所以,小型封裝往往要在性能、波形輸出和頻率選擇之間做出折衷。

    • 晶振工作環境

    高強度的振動或物理沖擊會給振蕩器帶來損壞。除了可能產生物理損壞,振動或沖擊可在某些頻率下引起錯誤的時鐘信號。換句話說,這些外部干擾會引起晶振出現“跳頻”、增加噪聲份量以及間歇性振蕩器失效,如停振等。

    對于要求特殊EMI兼容的應用,EMI是另一個要優先考慮的問題。除了采用合適的PCB布線設計,重要的是選擇可提供輻射量最小的時鐘振蕩器。一般來說,具有較慢上升/下降時間的振蕩器呈現較好的EMI特性。

    • 晶振常見故障:
    1. 內部漏電
    2. 內部開路
    3. 變質頻偏
    4. 其相連的外圍電容漏電
    • 關于晶振檢測

    從以上這些故障看,使用萬用表的高阻檔和測試儀的Ⅵ曲線功能應能檢查出(3)及(4)項的故障,但這將取決于它的損壞程度。

    晶振選型,晶振封裝,晶振工作環境,晶振常見故障及檢測

    對于晶振的檢測,通常僅能用示波器(需要通過電路板給予加電)或頻率計實現。萬用表或其它測試儀等是無法測量的。如果沒有條件或沒有辦法判斷其好壞時,那只能采用代換法了,這也是行之有效的。

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