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    無源晶振頻率異常原因分析

     

    無源晶振頻率異常原因分析

    (32.768KHz晶振輸出頻率測試)

    無源晶振頻率異常原因分析如下:

    • ?雜散電容

    請檢查電路板雜散電容隨著溫度變化而產生的變化量。在電路板通電后,電路板溫度變化會導致電路板雜散電容增加,這些寄生電容變化會直接影響晶振的負載電容值,可能造成晶振振蕩頻率會發生偏移。

    • ?驅動功率

    如果驅動功率超過了晶振規格中規定的數值,可能會激發晶振頻率跳變。晶振過驅后石英晶片溫度會提升,這將導致晶體本身溫度特性發生變化。為了避免晶振發生激發性頻率跳變,需要降低驅動功率。

    • 阻尼電阻

    增加阻尼電阻的同時,反相放大器的輸出幅度會減小,實際驅動功率也會減小。通過這樣的調整,振蕩幅度也會減小。因此,最好是檢查一下振蕩裕量是否超過了5倍。此外,需要注意振蕩幅度不能變得太小。

    • 外接電容

    減小外接電容,振蕩電路阻抗會增加,實際驅動功率也會減小。這樣一來,由于負載電容減小,實際振蕩頻率會增加。因此,最好是檢查一下實際振蕩頻率是否仍處于所需頻率范圍內。

     

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