• <sub id="uhzwv"></sub>

    <sub id="uhzwv"></sub>
  • <dd id="uhzwv"></dd><wbr id="uhzwv"></wbr>
    <dd id="uhzwv"><address id="uhzwv"></address></dd>
    如何正確測量晶振輸出頻率?

    正確測量晶振輸出頻率方法介紹如下:

    • 電路中測量點的正確選擇

    1、直接接觸式測量

    如何正確測量晶振輸出頻率?

    一些時鐘芯片帶clock out功能,此功能是buffer晶振的信號,其管腳的輸出是有很強大的驅動能力的,因此可以直接使用探頭測量。

    2、間接式測量

    晶振發出的時鐘輸入到處理器中,可以使用計時器對此信號作分頻處理,然后將分頻后的信號輸出到管腳。這樣我們只需測量分頻后的信號,即可計算出原有時鐘的頻率。這種間接測試的方法,只能測試晶振頻率,卻不能測量晶振輸出信號的幅度。

    3、非接觸的測量

    若信號驅動能力很強,可以考慮非接觸的測試方案:近場探頭。近場探頭配合頻譜儀,或示波器的FFT分析功能,即可測得峰值電壓處的頻率。

    • 來自探頭負載的影響

    探頭是測量系統的一部分,其正確使用與否很大影響著測試結果。當探頭的探針點擊測量點時,探頭的接入會對被測電路造成影響,這被稱為探頭的負載效應。這種負載效應一般簡化為電阻與電容的并聯。

    在帶寬500MHz以下的示波器,一般標配是1倍衰減或10倍衰減的無源探頭,某些探頭的衰減比可手動選擇。不同衰減比的探頭在帶寬、輸入電阻、輸入電容上面都有差異。

    一般情況下,探頭的輸入電容,比晶振手冊的負載電容要大。探頭的介入,必定大大影響到原已參數優化好的電路,從而嚴重影響晶體電路的起振。兩害相權取其輕,測量無源晶振時應優先選用10倍衰減探頭。若10倍衰減探頭的寄生參數還是過大,可以考慮選用有源高壓差分探頭。

    晶振輸出頻率測量方法

    1、硬件頻率計

    使用硬件頻率計時,有測周期與測脈沖數的算法。當信號頻率小時,會選用測周期的方法,信號周期的倒數就是頻率,此方法誤差源在于測周期的計時時鐘的頻率;當信號頻率大時,會選用測脈沖數的方法,在標準時間內測出信號上升沿的個數,此方法的誤差是標準時間內的選定問題。

    2、頻率參數測量

    在參數測量的時間參數中,有“頻率”測試項。此測試項是求得兩上升沿之間的時間差,再求倒數得到頻率。此測試項的誤差在于上升沿的判定與周期計時頻率,受限于當前采樣點的采樣率。

    3、上升沿參數測量

    在參數測量的統計參數中,有“上升沿計數”的方法,其原理是測量上升沿的個數。在測試中,可以將測量范圍選擇光標區域,而光標范圍設為200ms,這樣測得的上升沿乘以5,即為信號頻率。

    0755-23068369
    一分钟快3网址 一分快3 uu快3 网盟彩神IV 百姓购彩大厅在线购彩 彩神v在线登录